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电子枪高压绝缘性能提升的结构优化研究

陈昭福 汝佳冉 储开荣 王加松 沈长圣 柏宁丰 孙小菡

电子器件2024,Vol.47Issue(6):P.1525-1529,5.
电子器件2024,Vol.47Issue(6):P.1525-1529,5.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2024.06.014

电子枪高压绝缘性能提升的结构优化研究

陈昭福 1汝佳冉 1储开荣 2王加松 2沈长圣 1柏宁丰 1孙小菡1

作者信息

  • 1. 东南大学电子科学与工程学院,江苏南京210096
  • 2. 北京真空电子技术研究所,北京100015
  • 折叠

摘要

关键词

耐压性能/沿面闪络/三结合点/防晕环/屏蔽环

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陈昭福,汝佳冉,储开荣,王加松,沈长圣,柏宁丰,孙小菡..电子枪高压绝缘性能提升的结构优化研究[J].电子器件,2024,47(6):P.1525-1529,5.

基金项目

中国电子科技集团公司第十二研究所稳定支持研究经费资助项目。 ()

电子器件

OACSTPCD

1005-9490

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