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基于STM32的输电线路缺陷检测方法研究

黄学达 陈思思 袁刘湘 何鑫 魏钰颖

电子器件2024,Vol.47Issue(6):P.1601-1605,5.
电子器件2024,Vol.47Issue(6):P.1601-1605,5.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2024.06.025

基于STM32的输电线路缺陷检测方法研究

黄学达 1陈思思 1袁刘湘 1何鑫 1魏钰颖1

作者信息

  • 1. 重庆邮电大学自动化学院,重庆400065
  • 折叠

摘要

关键词

STM32/YOLOv7/输电线路/缺陷检测/注意力机制

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

黄学达,陈思思,袁刘湘,何鑫,魏钰颖..基于STM32的输电线路缺陷检测方法研究[J].电子器件,2024,47(6):P.1601-1605,5.

基金项目

重庆市市级大创项目(S202310617038)。 (S202310617038)

电子器件

OACSTPCD

1005-9490

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