GAGG:Ce探测器封装技术研究OA北大核心
为提升新型闪烁晶体GAGG:Ce在辐射探测器封装中的闪烁光子收集效率,通过蒙特卡罗程序Geant4和对比实验对?25.4 mm×25.4 mm的GAGG:Ce闪烁晶体的封装技术进行了研究。基于Geant4的LUT光子运输模型分析了晶体表面为镜面和打毛两种条件下,分别搭配镜面反射和漫反射反射层的光收集效率。在晶体的表面处理工艺确定后,通过实验分别对比了反射层材料及厚度、光学耦合剂折射率和光电转换器件等因素对探测器封装的影响。研究结果表明:晶体的入射面和侧面打毛、出光面抛光后,以1 mm厚度的二氧化钛涂料作为反射层,使用折射率为1.70的光学胶耦合R6231-100光电倍增管,可封装出较高闪烁光子收集效率的GAGG:Ce辐射探测器,其能量分辨率可达4.68%(@662 keV)。
万前银;王强;谢玉清;肖雄;张泽涛;丁雨憧;任科静;徐扬
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核科学
GAGG:Ce光子收集效率封装技术能量分辨率
《原子能科学技术》 2025 (1)
P.183-188,6
国家重点研发计划(2022YFF0707900,2022YFF0706400)。
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