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退火温度对磁控溅射掺锡氧化镓薄膜特性及其日盲光电探测器性能的影响

许怡红 范伟航 王尘

物理学报2025,Vol.74Issue(2):P.236-244,9.
物理学报2025,Vol.74Issue(2):P.236-244,9.DOI:10.7498/aps.74.20240972

退火温度对磁控溅射掺锡氧化镓薄膜特性及其日盲光电探测器性能的影响

许怡红 1范伟航 1王尘1

作者信息

  • 1. 厦门理工学院光电与通信工程学院,福建省光电技术与器件重点实验室,厦门361024
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摘要

关键词

射频磁控溅射/掺锡氧化镓薄膜/退火温度/日盲光电探测器

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

许怡红,范伟航,王尘..退火温度对磁控溅射掺锡氧化镓薄膜特性及其日盲光电探测器性能的影响[J].物理学报,2025,74(2):P.236-244,9.

基金项目

厦门市自然科学基金(批准号:3502Z202373061) (批准号:3502Z202373061)

福建省自然科学基金(批准号:2023J011459) (批准号:2023J011459)

国家自然科学基金青年基金(批准号:61904155) (批准号:61904155)

福建省教育厅科技计划(批准号:JAT200484) (批准号:JAT200484)

福建省科学技术协会资助的课题. ()

物理学报

OA北大核心

1000-3290

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