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基于红外热像的瓷绝缘子劣化诊断技术研究

刘嵘 辜超 周超 姚金霞 刘传彬 孙瑞筱

浙江电力2025,Vol.44Issue(1):P.116-123,8.
浙江电力2025,Vol.44Issue(1):P.116-123,8.DOI:10.19585/j.zjdl.202501012

基于红外热像的瓷绝缘子劣化诊断技术研究

刘嵘 1辜超 1周超 1姚金霞 1刘传彬 1孙瑞筱2

作者信息

  • 1. 国网山东省电力公司电力科学研究院,济南250003 山东省智能电网技术创新中心,济南250003
  • 2. 山东理工大学电气与电子工程学院,山东淄博255049
  • 折叠

摘要

关键词

劣化绝缘子/红外成像/温升模型/发热特性/温度阈值

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘嵘,辜超,周超,姚金霞,刘传彬,孙瑞筱..基于红外热像的瓷绝缘子劣化诊断技术研究[J].浙江电力,2025,44(1):P.116-123,8.

基金项目

山东省自然科学基金项目(ZR2023ME129) (ZR2023ME129)

国网山东省电力公司科技项目(520626220105)。 (520626220105)

浙江电力

1007-1881

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