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融合双层技术结构与综合特征评估的关键核心技术识别——以数控机床领域为例

高道斌 陈悦 韩盟 李志杰 张彪

情报杂志2025,Vol.44Issue(2):P.82-91,10.
情报杂志2025,Vol.44Issue(2):P.82-91,10.DOI:10.3969/j.issn.1002-1965.2025.02.012

融合双层技术结构与综合特征评估的关键核心技术识别——以数控机床领域为例

高道斌 1陈悦 1韩盟 1李志杰 2张彪3

作者信息

  • 1. 大连理工大学科学学与科技管理研究所暨WISE实验室,大连116024
  • 2. 山东理工大学信息管理学院,淄博255049
  • 3. 中国科学院成都文献情报中心,成都610299
  • 折叠

摘要

关键词

关键核心技术/技术识别/专利数据/综合特征评估/双层技术结构/数控机床

分类

社会科学

引用本文复制引用

高道斌,陈悦,韩盟,李志杰,张彪..融合双层技术结构与综合特征评估的关键核心技术识别——以数控机床领域为例[J].情报杂志,2025,44(2):P.82-91,10.

基金项目

教育部哲学社会科学研究重大课题攻关项目“基础研究领域颠覆性科研成果识别与我国基础研究能力提升研究”(编号:22JZD021)研究成果。 (编号:22JZD021)

情报杂志

OA北大核心

1002-1965

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