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基于高光谱成像的复合绝缘子表面污秽成分识别方法

缪金 秦军 陈峻宇 吴俊锋 任明 刘润宇

浙江电力2025,Vol.44Issue(1):P.124-132,9.
浙江电力2025,Vol.44Issue(1):P.124-132,9.DOI:10.19585/j.zjdl.202501013

基于高光谱成像的复合绝缘子表面污秽成分识别方法

缪金 1秦军 1陈峻宇 1吴俊锋 1任明 2刘润宇2

作者信息

  • 1. 国网江苏省电力有限公司无锡供电分公司,江苏无锡214000
  • 2. 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安710049
  • 折叠

摘要

关键词

绝缘硅橡胶/绝缘积污/反射光谱图像/污秽度/光谱特征提取

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

缪金,秦军,陈峻宇,吴俊锋,任明,刘润宇..基于高光谱成像的复合绝缘子表面污秽成分识别方法[J].浙江电力,2025,44(1):P.124-132,9.

基金项目

国网江苏省电力有限公司孵化项目(JF2024002)。 (JF2024002)

浙江电力

1007-1881

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