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基于MPPC阵列的核辐射成像探测器性能影响因素研究

陶祖才 王强 肖雄 宋宝林 张文强 刘双全 黄先超 丁雨憧 徐扬

人工晶体学报2025，Vol.54Issue(1)：P.40-48,9.
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人工晶体学报2025，Vol.54Issue(1)：P.40-48,9.DOI:10.16553/j.cnki.issn1000-985x.2024.0180

基于MPPC阵列的核辐射成像探测器性能影响因素研究

陶祖才 1王强 1肖雄 1宋宝林 1张文强 2刘双全 3黄先超 3丁雨憧 1徐扬1

作者信息

  • 1. 中电科芯片技术(集团)有限公司,重庆201800 中国电子科技集团公司第二十六研究所,重庆400060
  • 2. 中国科学院近代物理研究所,兰州730000
  • 3. 中国科学院高能物理研究所,北京100049
  • 折叠

摘要

关键词

MPPC阵列/YSO晶体阵列/核辐射成像探测器/电子学/前端电阻网络/光导厚度/光导边缘切割深度

分类

能源科技

引用本文复制引用

陶祖才,王强,肖雄,宋宝林,张文强,刘双全,黄先超,丁雨憧,徐扬..基于MPPC阵列的核辐射成像探测器性能影响因素研究[J].人工晶体学报,2025,54(1):P.40-48,9.

基金项目

国家重点研发计划(2022YFF0707900,2022YFF0706400) （2022YFF0707900,2022YFF0706400）

中电科芯片(集团)有限公司发展资金(K2602ZZ2023032)。 （集团）

人工晶体学报

OA北大核心

1000-985X

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