测控技术2025，Vol.44Issue(1)：P.41-50,10.DOI:10.19708/j.ckjs.2025.02.302
转向架构架表面缺陷的磁粉探伤检测算法研究
摘要
关键词
转向架构架/磁粉探伤/缺陷检测/YOLO-CET/注意力机制分类
计算机与自动化引用本文复制引用
刘晓东,戴吉,杨帆,李花,赵兴,卞佳楠..转向架构架表面缺陷的磁粉探伤检测算法研究[J].测控技术,2025,44(1):P.41-50,10.基金项目
国家自然科学基金青年基金项目(62001079)。 （62001079）
