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PCB表面缺陷数据集与基于YOLOv5s-P6SE的检测

梁泰然 蒋诗新 李泉洲 欧阳斌 吕盛坪

计算机工程与科学2025，Vol.47Issue(2)：P.276-287,12.
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计算机工程与科学2025，Vol.47Issue(2)：P.276-287,12.DOI:10.3969/j.issn.1007-130X.2025.02.010

PCB表面缺陷数据集与基于YOLOv5s-P6SE的检测

梁泰然 1蒋诗新 2李泉洲 2欧阳斌 1吕盛坪1

作者信息

  • 1. 华南农业大学工程学院,广东广州510642
  • 2. 中国赛宝实验室(工业和信息化部电子第五研究所),广东广州511370 工业装备质量大数据工业和信息化部重点实验室,广东广州511370
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摘要

关键词

印制电路板/表面缺陷检测/YOLOv5s-P6SE/SE注意力模块/柔性非极大抑制

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

梁泰然,蒋诗新,李泉洲,欧阳斌,吕盛坪..PCB表面缺陷数据集与基于YOLOv5s-P6SE的检测[J].计算机工程与科学,2025,47(2):P.276-287,12.

基金项目

广东省自然科学基金(2021A1515012395)。 （2021A1515012395）

计算机工程与科学

OA北大核心

1007-130X

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