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基于涡流的涂层厚度测量技术研究现状与进展

毋天歌 郭国强 陈怡 柯帅 孔志学 赵欢

上海航天(中英文)2024，Vol.41Issue(S2)：P.83-88,6.
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上海航天(中英文)2024，Vol.41Issue(S2)：P.83-88,6.DOI:10.19328/j.cnki.2096-8655.2024.S2.013

基于涡流的涂层厚度测量技术研究现状与进展

毋天歌 1郭国强 2陈怡 1柯帅 3孔志学 1赵欢3

作者信息

  • 1. 上海航天精密机械研究所,上海201600
  • 2. 上海航天精密机械研究所,上海201600 上海神剑精密机械科技有限公司,上海201600
  • 3. 华中科技大学数字化制造装备与技术国家重点实验室,湖北武汉430074
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摘要

关键词

导电涂层/非导电涂层/厚度均匀性/磁涡流测厚/测量加工一体化

分类

航空航天

引用本文复制引用

毋天歌,郭国强,陈怡,柯帅,孔志学,赵欢..基于涡流的涂层厚度测量技术研究现状与进展[J].上海航天(中英文),2024,41(S2):P.83-88,6.

基金项目

上海市科技计划项目(23XD1433400) （23XD1433400）

上海航天(中英文)

OACSTPCD

2096-8655

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