计算机工程与应用2025，Vol.61Issue(8)：P.239-249,11.DOI:10.3778/j.issn.1002-8331.2312-0180
基于YOLOv4-tiny-SR的涂层表面缺陷嵌入式检测方法
赵辉 1侯旭涛 1宋龙 2徐可 1沙建军 3陈宗阳3
作者信息
- 1. 天津航天中为数据系统科技有限公司导航事业部,天津300450 航天恒星科技有限公司导航事业部,北京100086
- 2. 北京航天新立科技有限公司,北京100039
- 3. 哈尔滨工程大学青岛创新发展基地,山东青岛266600
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摘要
关键词
涂层表面缺陷/YOLOv4-tiny-SR/几何平均聚类/包围盒聚焦损失分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
赵辉,侯旭涛,宋龙,徐可,沙建军,陈宗阳..基于YOLOv4-tiny-SR的涂层表面缺陷嵌入式检测方法[J].计算机工程与应用,2025,61(8):P.239-249,11.
