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振动试验对电子设备可靠性的影响

汪扬

中国科技成果2025，Vol.26Issue(6)：35-37,3.
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中国科技成果2025，Vol.26Issue(6)：35-37,3.DOI:10.3772/j.issn.1009-5659.2025.06.018

振动试验对电子设备可靠性的影响

汪扬1

作者信息

  • 1. 航天科工防御技术研究试验中心,北京 100854
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摘要

关键词

电子设备/振动试验/可靠性

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汪扬..振动试验对电子设备可靠性的影响[J].中国科技成果,2025,26(6):35-37,3.

中国科技成果

1009-5659

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