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面向后摩尔Ge-CMOS制造的超薄高介电常数LaLuO_(3)栅介质工艺研究

唐晓雨 刘玉杰 花涛

物理学报2025,Vol.74Issue(9):P.277-283,7.
物理学报2025,Vol.74Issue(9):P.277-283,7.DOI:10.7498/aps.74.20250126

面向后摩尔Ge-CMOS制造的超薄高介电常数LaLuO_(3)栅介质工艺研究

唐晓雨 1刘玉杰 1花涛1

作者信息

  • 1. 南京工程学院通信与人工智能学院、集成电路学院,南京211167
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摘要

关键词

Ge/基金属-氧化物-半导体场效应晶体管/栅极结构工艺/稀土氧化物/高介电常数

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

唐晓雨,刘玉杰,花涛..面向后摩尔Ge-CMOS制造的超薄高介电常数LaLuO_(3)栅介质工艺研究[J].物理学报,2025,74(9):P.277-283,7.

基金项目

国家自然科学基金(批准号:62104102) (批准号:62104102)

南京工程学院引进人才基金(批准号:YKJ201827)资助的课题. (批准号:YKJ201827)

物理学报

OA北大核心

1000-3290

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