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温度循环条件下电子产品加速寿命试验优化设计

侯松高 刘晓娣

测控技术2025,Vol.44Issue(8):P.50-55,6.
测控技术2025,Vol.44Issue(8):P.50-55,6.DOI:10.19708/j.ckjs.2025.08.301

温度循环条件下电子产品加速寿命试验优化设计

侯松高 1刘晓娣2

作者信息

  • 1. 烟台市特种设备检验研究院,山东烟台264001
  • 2. 海军航空大学航空基础学院,山东烟台264001
  • 折叠

摘要

关键词

加速寿命试验/优化设计/温度循环/电子产品

分类

航空航天

引用本文复制引用

侯松高,刘晓娣..温度循环条件下电子产品加速寿命试验优化设计[J].测控技术,2025,44(8):P.50-55,6.

测控技术

1000-8829

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