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结构设计对陶瓷覆铜板可靠性的影响

张振文 朱家旭 张浩 王波 耿春磊 许海仙

真空电子技术Issue(4):P.41-47,7.
真空电子技术Issue(4):P.41-47,7.DOI:10.16540/j.cnki.cn-2485/tn.2025.04.09

结构设计对陶瓷覆铜板可靠性的影响

张振文 1朱家旭 2张浩 1王波 2耿春磊 1许海仙1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第四十三研究所,安徽合肥230000 合肥圣达电子科技实业有限公司,安徽合肥230088
  • 2. 合肥圣达电子科技实业有限公司,安徽合肥230088
  • 折叠

摘要

关键词

陶瓷覆铜板/可靠性/结构设计/电子封装

分类

矿业与冶金

引用本文复制引用

张振文,朱家旭,张浩,王波,耿春磊,许海仙..结构设计对陶瓷覆铜板可靠性的影响[J].真空电子技术,2025,(4):P.41-47,7.

真空电子技术

1002-8935

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