现代电子技术2025，Vol.48Issue(17)：P.176-180,5.DOI:10.16652/j.issn.1004-373x.2025.17.026
基于改进YOLOv8n的PCBA外观缺陷检测
周志伟 1韩宾1
作者信息
- 1. 西南科技大学信息与控制工程学院,四川绵阳621010
- 折叠
摘要
关键词
PCBA/外观检测/缺陷检测/改进YOLOv8n/损失函数/轻量化网络分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
周志伟,韩宾..基于改进YOLOv8n的PCBA外观缺陷检测[J].现代电子技术,2025,48(17):P.176-180,5.
