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基于热耦合分析的IGBT损耗与结温估算研究

熊刘涛 李国丽 孙泽辉

电源学报2025,Vol.23Issue(4):P.306-315,10.
电源学报2025,Vol.23Issue(4):P.306-315,10.DOI:10.13234/j.issn.2095-2805.2025.4.306

基于热耦合分析的IGBT损耗与结温估算研究

熊刘涛 1李国丽 2孙泽辉1

作者信息

  • 1. 安徽大学电气工程与自动化学院,合肥230601 工业节电与电能质量控制协同创新中心(安徽大学),合肥230601
  • 2. 安徽大学电气工程与自动化学院,合肥230601 教育部电能质量工程研究中心(安徽大学),合肥230601 工业节电与用电安全安徽省重点实验室(安徽大学),合肥230601
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摘要

关键词

电机控制器/IGBT/温升预测/损耗计算

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

熊刘涛,李国丽,孙泽辉..基于热耦合分析的IGBT损耗与结温估算研究[J].电源学报,2025,23(4):P.306-315,10.

基金项目

国家重点研发计划资助项目(2018YFB0104900)。 (2018YFB0104900)

电源学报

OA北大核心

2095-2805

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