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短路和开路失效模式同时存在的固体继电器失效分析

代超 霍向东 孙静 王全

宇航材料工艺2025，Vol.55Issue(5)：P.109-112,4.
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宇航材料工艺2025，Vol.55Issue(5)：P.109-112,4.DOI:10.12044/j.issn.1007-2330.2025.05.016

短路和开路失效模式同时存在的固体继电器失效分析

代超 1霍向东 1孙静 1王全1

作者信息

  • 1. 航天材料及工艺研究所,北京100076
  • 折叠

摘要

关键词

短路/开路/失效模式/电荷

分类

信息技术与安全科学

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代超,霍向东,孙静,王全..短路和开路失效模式同时存在的固体继电器失效分析[J].宇航材料工艺,2025,55(5):P.109-112,4.

宇航材料工艺

OA北大核心

1007-2330

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