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Ho元素调控“芯-壳”结构超薄层MLCC介电性能和可靠性研究

蔡振灏 赵一凡 张蕾 于杰 曹秀华 付振晓 孙蓉

现代技术陶瓷2025，Vol.46Issue(5)：P.470-483,14.
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现代技术陶瓷2025，Vol.46Issue(5)：P.470-483,14.DOI:10.16253/j.cnki.37-1226/tq.2025.05.005

Ho元素调控“芯-壳”结构超薄层MLCC介电性能和可靠性研究

蔡振灏 1赵一凡 2张蕾 2于杰 3曹秀华 4付振晓 4孙蓉2

作者信息

  • 1. 中国科学院深圳先进技术研究院,深圳518055 中国科学院大学,北京100049
  • 2. 中国科学院深圳先进技术研究院,深圳518055
  • 3. 昆明理工大学材料科学与工程学院,昆明650093
  • 4. 广东风华高新科技股份有限公司先进材料和电子元器件国家重点实验室,广东肇庆526060
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摘要

关键词

MLCC/芯-壳结构/介电性能/可靠性/X5R

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

蔡振灏,赵一凡,张蕾,于杰,曹秀华,付振晓,孙蓉..Ho元素调控“芯-壳”结构超薄层MLCC介电性能和可靠性研究[J].现代技术陶瓷,2025,46(5):P.470-483,14.

基金项目

国家重点研发计划(2022YFB380740) （2022YFB380740）

国家自然科学基金(51802142) （51802142）

广东省自然科学基金(2022A1515012604) （2022A1515012604）

新型电子元器件与材料国家重点实验室(FHR-JS-202011012) （FHR-JS-202011012）

先进电子元器件联合创新中心(FHR-JS-202103001)。 （FHR-JS-202103001）

现代技术陶瓷

1005-1198

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