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一种SiC MOSFET双阈值检测短路保护电路设计与研究

谭亚雄 刘元 张梦洋 郭珺灏

中国电机工程学报2025,Vol.45Issue(21):P.8544-8554,I0023,12.
中国电机工程学报2025,Vol.45Issue(21):P.8544-8554,I0023,12.DOI:10.13334/j.0258-8013.pcsee.242303

一种SiC MOSFET双阈值检测短路保护电路设计与研究

谭亚雄 1刘元 1张梦洋 1郭珺灏1

作者信息

  • 1. 输变电装备技术全国重点实验室(重庆大学),重庆市沙坪坝区400044
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摘要

关键词

碳化硅金属-氧化物半导体场效应晶体管/短路保护/di/dt检测/短路测试/双阈值检测

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

谭亚雄,刘元,张梦洋,郭珺灏..一种SiC MOSFET双阈值检测短路保护电路设计与研究[J].中国电机工程学报,2025,45(21):P.8544-8554,I0023,12.

基金项目

重庆自然科学基金项目(CSTB2025NSCQ-LZX0O17) (CSTB2025NSCQ-LZX0O17)

四川省科技计划项目(2024YFHZ0104)。 (2024YFHZ0104)

中国电机工程学报

OA北大核心

0258-8013

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