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基于CMOS图像传感器的重离子辐射探测方法及误差分析

刘新飞文林李豫东郭旗

原子能科学技术2025，Vol.59Issue(12)：P.2746-2754,9.

原子能科学技术2025，Vol.59Issue(12)：P.2746-2754,9.DOI:10.7538/yzk.2025.youxian.0105

刘新飞 ¹文林 ²李豫东 ²郭旗²

作者信息

1. 新疆大学材料科学与工程学院,新疆乌鲁木齐830017 中国科学院新疆理化技术研究所,新疆乌鲁木齐830011 特殊环境条件功能材料与器件全国重点实验室,新疆乌鲁木齐830011 新疆极端环境电子学重点实验室,新疆乌鲁木齐830011
2. 中国科学院新疆理化技术研究所,新疆乌鲁木齐830011 特殊环境条件功能材料与器件全国重点实验室,新疆乌鲁木齐830011 新疆极端环境电子学重点实验室,新疆乌鲁木齐830011
折叠

CMOS图像传感器/重离子/辐射探测/注量/注量率

能源科技

刘新飞,文林,李豫东,郭旗..基于CMOS图像传感器的重离子辐射探测方法及误差分析[J].原子能科学技术,2025,59(12):P.2746-2754,9.

国家自然科学基金(12175308) （12175308）

自治区“天山英才”青年拔尖人才项目(2023TSYCCX0107)。（2023TSYCCX0107）

OA北大核心

ISSN：1000-6931

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