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基于标准具的涂层厚度高精度检测技术研究

顾健张霁旸雷涛张丹丹任姣姣薛俊文陈奇杨文韬

航空工程进展2025，Vol.16Issue(6)：P.139-147,9.

航空工程进展2025，Vol.16Issue(6)：P.139-147,9.DOI:10.16615/j.cnki.1674-8190.2025.06.16

顾健 ¹张霁旸 ²雷涛 ¹张丹丹 ¹任姣姣 ¹薛俊文 ²陈奇 ²杨文韬¹

作者信息

涂层/厚度测量/标准具/太赫兹/无损检测

航空航天

顾健,张霁旸,雷涛,张丹丹,任姣姣,薛俊文,陈奇,杨文韬..基于标准具的涂层厚度高精度检测技术研究[J].航空工程进展,2025,16(6):P.139-147,9.

中山市第九批创新科研团队项目(GXTD2022010)。（GXTD2022010）

ISSN：1674-8190

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