现代应用物理2026，Vol.17Issue(1)：P.159-169,11.DOI:10.12061/j.issn.2095-6223.202504006
辐射环境中纳米器件栅介质可靠性评估方法
姚志斌 1缑石龙 1马武英 1盛江坤 1胡杨1
作者信息
- 1. 强脉冲辐射环境与效应全国重点实验室,西安710024
- 折叠
摘要
关键词
纳米器件/总剂量效应/电应力/可靠性分类
能源科技引用本文复制引用
姚志斌,缑石龙,马武英,盛江坤,胡杨..辐射环境中纳米器件栅介质可靠性评估方法[J].现代应用物理,2026,17(1):P.159-169,11.
