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高功率微波作用下微波混频器损伤效应的测试方法

杨志强 章勇华 巴涛 涂敏 李平

现代应用物理2026,Vol.17Issue(1):P.126-133,8.
现代应用物理2026,Vol.17Issue(1):P.126-133,8.DOI:10.12061/j.issn.2095-6223.202407069

高功率微波作用下微波混频器损伤效应的测试方法

杨志强 1章勇华 2巴涛 2涂敏 2李平2

作者信息

  • 1. 西安电子科技大学机电工程学院,西安710071 先进高功率微波技术重点实验室,西安710024
  • 2. 先进高功率微波技术重点实验室,西安710024
  • 折叠

摘要

关键词

高功率微波/混频器/损伤效应测试/中频信号/射频信号

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杨志强,章勇华,巴涛,涂敏,李平..高功率微波作用下微波混频器损伤效应的测试方法[J].现代应用物理,2026,17(1):P.126-133,8.

基金项目

先进高功率微波技术重点实验室基金资助项目(Z091230819)。 (Z091230819)

现代应用物理

2095-6223

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