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适用于芯片化的低时延同步相量测量方法

刘灏 张佳佳 毕天姝 李跃 赵博宇 张炜琦

电网技术2026,Vol.50Issue(2):P.889-898,I0148,11.
电网技术2026,Vol.50Issue(2):P.889-898,I0148,11.DOI:10.13335/j.1000-3673.pst.2024.2270

适用于芯片化的低时延同步相量测量方法

刘灏 1张佳佳 1毕天姝 1李跃 2赵博宇 1张炜琦3

作者信息

  • 1. 新能源电力系统全国重点实验室(华北电力大学),北京市昌平区102206
  • 2. 贵州电网有限责任公司电力科学研究院,贵州省贵阳市550003
  • 3. 国网山东省电力公司济南供电公司,山东省济南市250012
  • 折叠

摘要

关键词

配网侧相量测量装置/相量测量算法/现场可编程门阵列/低延时数字滤波器/芯片化测量装置

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘灏,张佳佳,毕天姝,李跃,赵博宇,张炜琦..适用于芯片化的低时延同步相量测量方法[J].电网技术,2026,50(2):P.889-898,I0148,11.

基金项目

国家自然科学基金项目(52377098)。 (52377098)

电网技术

1000-3673

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