科技创新与应用2026，Vol.16Issue(6)：P.110-113,4.DOI:10.19981/j.CN23-1581/G3.2026.06.026
DDR微组件测试系统设计
余国良 1胡许光 1郭帅1
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214072
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摘要
关键词
SiP/多芯片模块/DDR微组件/实装测试/微电子技术分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
余国良,胡许光,郭帅..DDR微组件测试系统设计[J].科技创新与应用,2026,16(6):P.110-113,4.
