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电热联合老化对胶浸纸套管频域介电性能的影响

谢雄杰 刘泰蔚 胡伟 许佐明 罗晓庆 尹朋博

高电压技术2026,Vol.52Issue(1):P.460-468,9.
高电压技术2026,Vol.52Issue(1):P.460-468,9.DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20241839

电热联合老化对胶浸纸套管频域介电性能的影响

谢雄杰 1刘泰蔚 1胡伟 2许佐明 2罗晓庆 1尹朋博1

作者信息

  • 1. 电网环境保护全国重点实验室(中国电力科学研究院有限公司),武汉430074
  • 2. 电网环境保护全国重点实验室(中国电力科学研究院有限公司),武汉430074 电力设备电气绝缘全国重点实验室(西安交通大学),西安710049
  • 折叠

摘要

关键词

胶浸纸套管/电热联合老化/频域介电谱/Havriliak-Negami模型/特征参量

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

谢雄杰,刘泰蔚,胡伟,许佐明,罗晓庆,尹朋博..电热联合老化对胶浸纸套管频域介电性能的影响[J].高电压技术,2026,52(1):P.460-468,9.

基金项目

国家重点研发计划(2021YFB2401100) (2021YFB2401100)

国家电网公司科技项目(柔性低频输电关键技术)(GYB17202200201)。 (柔性低频输电关键技术)

高电压技术

1003-6520

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