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基于LSTM的电路板高温测试的阈值选择及优化方法研究

吕方兴刘晶晶李飞岳莹常琛宇张婷婷

现代电子技术2026，Vol.49Issue(8)：P.33-40,8.

现代电子技术2026，Vol.49Issue(8)：P.33-40,8.DOI:10.16652/j.issn.1004-373x.2026.08.006

吕方兴 ¹刘晶晶 ¹李飞 ¹岳莹 ¹常琛宇 ¹张婷婷¹

作者信息

1. 西安石油大学电子工程学院,陕西西安710065 西安石油大学西安市油气及新能源开发装备智能化重点实验室,陕西西安710065 西安石油大学中国海油集团测井与定向钻井重点实验室定向钻井分室,陕西西安710065
折叠

电路板/高温测试/阈值选择/优化模型/长短期记忆神经网络/3σ准则/滑动窗口

信息技术与安全科学

吕方兴,刘晶晶,李飞,岳莹,常琛宇,张婷婷..基于LSTM的电路板高温测试的阈值选择及优化方法研究[J].现代电子技术,2026,49(8):P.33-40,8.

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ISSN：1004-373X

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