|国家科技期刊平台
| 注册
首页|期刊导航|宇航材料工艺|片式厚膜电阻器和电阻排失效分析方法和案例

片式厚膜电阻器和电阻排失效分析方法和案例

代超 霍向东 蒲晓娟 孙静 王全

宇航材料工艺2026，Vol.56Issue(2)：P.145-149,5.
✕
宇航材料工艺2026，Vol.56Issue(2)：P.145-149,5.DOI:10.12044/j.issn.1007-2330.2026.02.022

片式厚膜电阻器和电阻排失效分析方法和案例

代超 1霍向东 1蒲晓娟 1孙静 1王全1

作者信息

  • 1. 航天材料及工艺研究所,北京100076
  • 折叠

摘要

关键词

厚膜电阻器/失效分析/案例

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

代超,霍向东,蒲晓娟,孙静,王全..片式厚膜电阻器和电阻排失效分析方法和案例[J].宇航材料工艺,2026,56(2):P.145-149,5.

宇航材料工艺

1007-2330

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文