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高过载电子产品灌封加固可靠性研究

季磊 孙嘉隆 蒋海峰 于建鹏 李鹏

宇航材料工艺2026,Vol.56Issue(2):P.22-28,7.
宇航材料工艺2026,Vol.56Issue(2):P.22-28,7.DOI:10.12044/j.issn.1007-2330.2026.02.004

高过载电子产品灌封加固可靠性研究

季磊 1孙嘉隆 1蒋海峰 1于建鹏 1李鹏1

作者信息

  • 1. 上海无线电设备研究所,上海201109
  • 折叠

摘要

关键词

高过载/模拟仿真/底部填充/灌封加固/可靠性

分类

军事科技

引用本文复制引用

季磊,孙嘉隆,蒋海峰,于建鹏,李鹏..高过载电子产品灌封加固可靠性研究[J].宇航材料工艺,2026,56(2):P.22-28,7.

基金项目

国家自然科学基金(52205277)。 (52205277)

宇航材料工艺

1007-2330

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