| 注册
首页|期刊导航|天津工业大学学报|基于机器视觉的芯片缺陷在线检测系统设计

基于机器视觉的芯片缺陷在线检测系统设计

郭翠娟 谭庆嵩 刘琨 徐伟 白晋军

天津工业大学学报2026,Vol.45Issue(3):P.96-103,8.
✕
天津工业大学学报2026,Vol.45Issue(3):P.96-103,8.DOI:10.3969/j.issn.1671-024x.2026.03.012

基于机器视觉的芯片缺陷在线检测系统设计

郭翠娟 1谭庆嵩 1刘琨 2徐伟 1白晋军1

作者信息

  • 1. 天津工业大学电子与信息工程学院,天津300387
  • 2. 中国航天科工防御技术研究试验中心,北京100854
  • 折叠

摘要

关键词

机器视觉/HALCON视觉软件/缺陷检测/芯片定位/引脚测量

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

郭翠娟,谭庆嵩,刘琨,徐伟,白晋军..基于机器视觉的芯片缺陷在线检测系统设计[J].天津工业大学学报,2026,45(3):P.96-103,8.

基金项目

中国博士后科学基金面上基金项目(2019M661013) (2019M661013)

天津市科技计划项目(20YDTPJC01090,22YDTPJC00090)。 (20YDTPJC01090,22YDTPJC00090)

天津工业大学学报

1671-024X

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文