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IGBT模块插针缺陷检测方法研究

陈桢 范伟军 潘飞文 郭斌 罗哉 胡晓峰

计量学报2026，Vol.47Issue(6)：P.852-859,8.
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计量学报2026，Vol.47Issue(6)：P.852-859,8.DOI:10.3969/j.issn.1000-1158.2026.06.09

IGBT模块插针缺陷检测方法研究

陈桢 1范伟军 1潘飞文 2郭斌 3罗哉 1胡晓峰1

作者信息

  • 1. 中国计量大学计量测试与仪器学院,浙江杭州310008
  • 2. 杭州沃镭智能科技股份有限公司,浙江杭州310018
  • 3. 中国计量大学计量测试与仪器学院,浙江杭州310008 杭州沃镭智能科技股份有限公司,浙江杭州310018
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摘要

关键词

插针缺陷检测/IGBT模块/机器视觉/阈值分割/YOLOv8s/损失函数

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

陈桢,范伟军,潘飞文,郭斌,罗哉,胡晓峰..IGBT模块插针缺陷检测方法研究[J].计量学报,2026,47(6):P.852-859,8.

基金项目

国家重点研发计划(2024YFF0619902,2024YFF0619903) （2024YFF0619902,2024YFF0619903）

浙江省科技计划项目(2023C01061)。 （2023C01061）

计量学报

1000-1158

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