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基于改进DEIM的印刷电路板缺陷检测算法

高雪 袁飞 霍艳飞

液晶与显示2026，Vol.41Issue(5)：P.700-716,17.
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液晶与显示2026，Vol.41Issue(5)：P.700-716,17.DOI:10.37188/CJLCD.2026-0045

基于改进DEIM的印刷电路板缺陷检测算法

高雪 1袁飞 2霍艳飞3

作者信息

  • 1. 常州工业职业技术学院智能控制学院,江苏常州213164
  • 2. 常州工业职业技术学院邓建军工匠学院,江苏常州213164
  • 3. 大连海洋大学应用技术学院,辽宁大连116300
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摘要

关键词

PCB缺陷检测/DEIM/轻量化目标检测/边缘部署

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

高雪,袁飞,霍艳飞..基于改进DEIM的印刷电路板缺陷检测算法[J].液晶与显示,2026,41(5):P.700-716,17.

基金项目

江苏省高等教育教改立项研究课题(重点)(No.2023JSJG238) （重点）

江苏省高等学校基础科学(自然科学)研究面上项目(No.23KJB460002) （自然科学）

常州市应用基础研究计划(No.CJ20241057)。 （No.CJ20241057）

液晶与显示

1007-2780

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