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基于电路匹配建模的SAR成像处理芯片验证方法

王超 李涌睿 张至涵

集成电路与嵌入式系统2026,Vol.26Issue(8):P.50-58,9.
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集成电路与嵌入式系统2026,Vol.26Issue(8):P.50-58,9.DOI:10.20193/j.ices2097-4191.2026.0007

基于电路匹配建模的SAR成像处理芯片验证方法

王超 1李涌睿 2张至涵2

作者信息

  • 1. 北京理工安徽空天信息研究院,合肥230071
  • 2. 北京理工大学,北京100071
  • 折叠

摘要

关键词

SAR实时成像处理/SoC芯片验证/参考模型/计算引擎/通用验证方法学

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王超,李涌睿,张至涵..基于电路匹配建模的SAR成像处理芯片验证方法[J].集成电路与嵌入式系统,2026,26(8):P.50-58,9.

集成电路与嵌入式系统

2097-4191

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