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考虑空间辐射-温度耦合效应的DC-DC电源寿命评估

宗怡明 方艳红 锁斌

电源学报2026,Vol.24Issue(8):P.339-346,8.
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电源学报2026,Vol.24Issue(8):P.339-346,8.DOI:10.13234/j.issn.2095-2805.2026.8.339

考虑空间辐射-温度耦合效应的DC-DC电源寿命评估

宗怡明 1方艳红 1锁斌1

作者信息

  • 1. 西南科技大学信息工程学院,绵阳621010 西南科技大学复杂环境装备可靠性研究中心,绵阳621010
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摘要

关键词

DC-DC电源/加速退化试验/空间辐射-温度耦合效应/寿命评估

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

宗怡明,方艳红,锁斌..考虑空间辐射-温度耦合效应的DC-DC电源寿命评估[J].电源学报,2026,24(8):P.339-346,8.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(U1830133) (U1830133)

四川省高效电源变换技术工程研究中心基金资助项目(JS20231000536) (JS20231000536)

中央引导地方科技发展资金资助项目(2023ZYDF022)。 (2023ZYDF022)

电源学报

2095-2805

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