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已找到 14 条结果
- Al/BaTiO3/Si结构的湿敏特性与机理研究北大核心CSCD
- 背面Ar+轰击对n-沟MOSFET特性的影响北大核心CSCD
- 三氯乙烯氧化硅膜推迟破坏性击穿的机理研究CSCD
- 薄膜厚度对钛酸钡类薄膜传感器敏感特性的影响北大核心CSCDCSTPCD
- 低能量Ar+背面轰击对晶体管特性的影响北大核心CSCD
- Ar+背面轰击对肖特基势垒特性的影响北大核心CSCD
- 硅衬底的SrTiO3淀积膜的湿敏特性与机理研究北大核心CSCD
- 沟道大电流感应n沟金属-氧化物-半导体场效应晶体管栅氧化层的加速击穿北大核心CSCD
- Ar+背面轰击对SiOxNy栅介质的n-MOSFET迁移率和跨导的影响北大核心CSCD
- 氧退火对钛酸锶钡薄膜介电常数的影响北大核心CSCDCSTPCD