- 年份
- 2000（1）
- 核心收录
- 中国科技论文与引文数据库(CSTPCD)（1）
- 刊名
- 西安理工大学学报（1）
- 作者单位
- 西安交通大学（1）
- 西安理工大学（1）
- 语种
- 汉语（1）
- 关键词
- Cu70Ni30熔体（1）
- SiO2涂层（1）
- 涂层结构（1）
- 过冷遗传性（1）
- 更多...
- 作者
- 杨根仓（1）
- 邢建东（1）
- 郭学锋（1）
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- SiO2涂层结构对Cu70Ni30熔体过冷遗传性的影响CSTPCD摘要：采用热分析和红外光谱分析法研究了SiO2凝胶薄膜热处理过程中的热失重和结构变化,确定了薄膜在室温～673 K温度区间的分级热处理工艺和玻璃化温度.在熔模铸造壳型内表面基体玻璃涂层上制备了两类无裂纹SiO2薄膜涂层.析晶实验结果表明,第一类薄膜涂层在高温下为方石英,第二类薄膜涂层经1 773 K保温15 min处理后为稳定玻璃态.将深过冷Cu70Ni30合金熔体浇入两种涂层壳型中分别获得了90 K和198 K的过冷度,表明涂层结构对合金熔体过冷遗传性有影响.