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电子元件与材料
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高纯铝箔再结晶晶粒度对比容的影响
高纯铝箔再结晶晶粒度对比容的影响
孙中禹
徐友龙
曹婉真
陈旭远
电子元件与材料
1995,Vol.14
Issue(4):P.45-48,4.
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电子元件与材料
1995,Vol.14
Issue(4)
:P.45-48,4.
高纯铝箔再结晶晶粒度对比容的影响
孙中禹
1
徐友龙
1
曹婉真
1
陈旭远
1
作者信息
1.
空军电讯工程学院,西安交通大学
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摘要
关键词
电解电容器
/
铝箔
/
再结晶
/
晶粒度
分类
信息技术与安全科学
引用本文
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孙中禹,徐友龙,曹婉真,陈旭远..高纯铝箔再结晶晶粒度对比容的影响[J].电子元件与材料,1995,14(4):P.45-48,4.
电子元件与材料
OA
北大核心
ISSN:
1001-2028
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