电子与封装2009，Vol.9Issue(3)：11-14,4.
多晶硅TFT热载流子效应的模拟研究
A Study of Hot Carrier Effects on Polysilicon Thin Film Transistors by Simulation
摘要
关键词
多晶硅薄膜晶体管/热裁流子效应/界面陷阱/模拟分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
陶晶晶,岑晨,刘小红,顾晓峰,钟传杰,于宗光..多晶硅TFT热载流子效应的模拟研究[J].电子与封装,2009,9(3):11-14,4.基金项目
江苏省高等学校大学生实践创新训练计划,教育部新世纪优秀人才支持计划(NCET-06-0484),江苏省自然科学基金(BK2007026)资助项目 （NCET-06-0484）
