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V777测试系统DA/AD测试技术的研究

陆强 孙晓丽

电子与封装2008,Vol.8Issue(8):13-17,5.
电子与封装2008,Vol.8Issue(8):13-17,5.

V777测试系统DA/AD测试技术的研究

Research on Test Technology of DMAD on V777 Test System

陆强 1孙晓丽1

作者信息

  • 1. 无锡华润矽科微电子有限公司,江苏,无锡,214061
  • 折叠

摘要

关键词

测试系统/DUT/DSP/ADC/DAC/PMU/FFT

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陆强,孙晓丽..V777测试系统DA/AD测试技术的研究[J].电子与封装,2008,8(8):13-17,5.

电子与封装

1681-1070

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