| 注册
首页|期刊导航|电子与封装|国际金融危机下封装测试行业面临的挑战

国际金融危机下封装测试行业面临的挑战

于燮康

电子与封装2009,Vol.9Issue(2):1-4,4.
电子与封装2009,Vol.9Issue(2):1-4,4.

国际金融危机下封装测试行业面临的挑战

The Challenge Faced by the IC Packaging and Testing Industry under the International Financial Crisis

于燮康1

作者信息

  • 1. 江苏长电科技股份有限公司,江苏江阴,214431
  • 折叠

摘要

关键词

半导体行业/封装测试/金融危机

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

于燮康..国际金融危机下封装测试行业面临的挑战[J].电子与封装,2009,9(2):1-4,4.

电子与封装

1681-1070

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文