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退火工艺对钛酸锶钡薄膜结构的影响

赵莉 杨传仁 冷文建 陈宏伟 符春林 廖家轩 高志强

电子元件与材料2004,Vol.23Issue(10):17-19,3.
电子元件与材料2004,Vol.23Issue(10):17-19,3.

退火工艺对钛酸锶钡薄膜结构的影响

Stracture of Ba0.6Sr0.4TiO3 Thin Films Prepared by Sputterring Dependance on Annealing Process

赵莉 1杨传仁 1冷文建 1陈宏伟 1符春林 1廖家轩 1高志强1

作者信息

  • 1. 电子科技大学微电子与固体电子学院,四川,成都,610054
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摘要

关键词

无机陶瓷材料/BST薄膜/退火/择优取向/RMS/XRD/AFM

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

赵莉,杨传仁,冷文建,陈宏伟,符春林,廖家轩,高志强..退火工艺对钛酸锶钡薄膜结构的影响[J].电子元件与材料,2004,23(10):17-19,3.

基金项目

国家"973"项目 ()

电子元件与材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2028

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