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电子元件与材料
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镀金层微孔率检测方法的研究
镀金层微孔率检测方法的研究
周怡琳
章继高
电子元件与材料
2002,Vol.21
Issue(11):19-21,3.
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电子元件与材料
2002,Vol.21
Issue(11)
:19-21,3.
镀金层微孔率检测方法的研究
Investigation on the Methods for Measuring Porosity on Gold Plating
周怡琳
1
章继高
1
作者信息
1.
北京邮电大学电接触科研室,北京,100876
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摘要
关键词
镀金
/
加速腐蚀
/
微孔率
分类
化学化工
引用本文
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周怡琳,章继高..镀金层微孔率检测方法的研究[J].电子元件与材料,2002,21(11):19-21,3.
电子元件与材料
OA
北大核心
CSCD
CSTPCD
ISSN:
1001-2028
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