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镀金层微孔率检测方法的研究

周怡琳 章继高

电子元件与材料2002,Vol.21Issue(11):19-21,3.
电子元件与材料2002,Vol.21Issue(11):19-21,3.

镀金层微孔率检测方法的研究

Investigation on the Methods for Measuring Porosity on Gold Plating

周怡琳 1章继高1

作者信息

  • 1. 北京邮电大学电接触科研室,北京,100876
  • 折叠

摘要

关键词

镀金/加速腐蚀/微孔率

分类

化学化工

引用本文复制引用

周怡琳,章继高..镀金层微孔率检测方法的研究[J].电子元件与材料,2002,21(11):19-21,3.

电子元件与材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2028

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