电子与封装2008，Vol.8Issue(11)：20-23,4.
CMOS电路结构中的闩锁效应及其防止措施研究
Research on Latch-up Effect in CMOS and Its Prevention
摘要
关键词
闩锁效应/CMOS电路/版图设计分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
龙恩,陈祝..CMOS电路结构中的闩锁效应及其防止措施研究[J].电子与封装,2008,8(11):20-23,4.基金项目
成都信息工程学院发展基金资助(KYTZ200713) （KYTZ200713）
