| 注册
首页|期刊导航|电子与封装|3D-MCM的X射线检测分析

3D-MCM的X射线检测分析

李建辉 董兆文

电子与封装2005,Vol.5Issue(9):20-23,28,5.
电子与封装2005,Vol.5Issue(9):20-23,28,5.

3D-MCM的X射线检测分析

X-ray Inspection and Analysis On 3D-MCM

李建辉 1董兆文1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第43研究所,安徽,合肥,230022
  • 折叠

摘要

关键词

X射线检测/3D-MCM/BGA/焊接/焊料凸点

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

李建辉,董兆文..3D-MCM的X射线检测分析[J].电子与封装,2005,5(9):20-23,28,5.

电子与封装

1681-1070

访问量1
|
下载量0
段落导航相关论文