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多层陶瓷外壳的失效分析和可靠性设计

汤纪南

电子与封装2006,Vol.6Issue(10):22-26,5.
电子与封装2006,Vol.6Issue(10):22-26,5.

多层陶瓷外壳的失效分析和可靠性设计

Invalidation Analysis and Reliability Design of Multilayer Ceramic Package

汤纪南1

作者信息

  • 1. 江苏省宜兴电子器件总厂,江苏,宜兴,214221
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摘要

关键词

多层陶瓷外壳/失效模式/失效机理/可靠性设计

分类

信息技术与安全科学

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汤纪南..多层陶瓷外壳的失效分析和可靠性设计[J].电子与封装,2006,6(10):22-26,5.

电子与封装

1681-1070

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