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IC内置熔丝熔断方法

陆强 孙明

电子与封装2008,Vol.8Issue(7):26-30,5.
电子与封装2008,Vol.8Issue(7):26-30,5.

IC内置熔丝熔断方法

IC Fuse Blowing Method

陆强 1孙明1

作者信息

  • 1. 无锡华润矽科微电子有限公司,无锡,214061
  • 折叠

摘要

关键词

测试程序/熔丝熔断/可编程逻辑电路

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陆强,孙明..IC内置熔丝熔断方法[J].电子与封装,2008,8(7):26-30,5.

电子与封装

1681-1070

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