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单片集成GaAs增强/耗尽型赝配高电子迁移率晶体管

章军云 林罡 陈堂胜

电子与封装2009,Vol.9Issue(6):29-32,4.
电子与封装2009,Vol.9Issue(6):29-32,4.

单片集成GaAs增强/耗尽型赝配高电子迁移率晶体管

Monolithic Integration of GaAs Enhancement/depletion-mode PHEMTs

章军云 1林罡 1陈堂胜1

作者信息

  • 1. 南京电子器件研究所单片集成电路与模块国家级重点实验室,南京,210016
  • 折叠

摘要

关键词

单片集成/增强型/阈值电压

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

章军云,林罡,陈堂胜..单片集成GaAs增强/耗尽型赝配高电子迁移率晶体管[J].电子与封装,2009,9(6):29-32,4.

电子与封装

1681-1070

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