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低压断路器脱扣性能的有限元仿真

杜凤山 郭振宇 李亮

电子元件与材料2004,Vol.23Issue(8):30-32,3.
电子元件与材料2004,Vol.23Issue(8):30-32,3.

低压断路器脱扣性能的有限元仿真

FEM Simulation of the Interruption of Low Voltage Circuit Breaker

杜凤山 1郭振宇 1李亮1

作者信息

  • 1. 燕山大学,河北,秦皇岛,066004
  • 折叠

摘要

关键词

电子技术/热双金属/断路器/有限元/仿真

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杜凤山,郭振宇,李亮..低压断路器脱扣性能的有限元仿真[J].电子元件与材料,2004,23(8):30-32,3.

电子元件与材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2028

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