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电子元件与材料
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低压断路器脱扣性能的有限元仿真
低压断路器脱扣性能的有限元仿真
杜凤山
郭振宇
李亮
电子元件与材料
2004,Vol.23
Issue(8):30-32,3.
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电子元件与材料
2004,Vol.23
Issue(8)
:30-32,3.
低压断路器脱扣性能的有限元仿真
FEM Simulation of the Interruption of Low Voltage Circuit Breaker
杜凤山
1
郭振宇
1
李亮
1
作者信息
1.
燕山大学,河北,秦皇岛,066004
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摘要
关键词
电子技术
/
热双金属
/
断路器
/
有限元
/
仿真
分类
信息技术与安全科学
引用本文
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杜凤山,郭振宇,李亮..低压断路器脱扣性能的有限元仿真[J].电子元件与材料,2004,23(8):30-32,3.
电子元件与材料
OA
北大核心
CSCD
CSTPCD
ISSN:
1001-2028
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